Site Perso: Johan VERSTRAETE
Enseignant - Formateur
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Curriculum Vitae - Publications et communications

Revues internationales à comité de lecture

J. Verstraete, L. Khouchaf, D. Bulteel, E. Garcia-diaz, A.M. Flank, M.H Tuilier, "Amorphisation Mechanism of a Flint Aggregate during the Alcali-Silica Reaction: X-ray Diffraction and X-ray Absorption XANES contributions" Cement and Concrete Research 34, 581-586, (2004).

J. Verstraete, L. Khouchaf, and M.H. Tuilier, "Contributions of the Environmental Scanning Electron Microscope and X-ray diffraction in investigating the structural evolution of a SiO2 Aggregate attacked by Alkali-Silica Reaction", Journal of Materials Science 39, 6221-6226, (2004).

L. Khouchaf, J. Verstraete, R.J. Prado and M.H. Tuilier, "XANES, EXAFS and RMN contributions to follow the structural evolution induced by Alkali-Silica Reaction in SiO2 aggregate", Physica Scripta T115, 552 (2005).

L. Khouchaf, J. Verstraete, "Multi-technique and multi-scale approach applied to study the structural behavior of heterogeneous materials: natural SiO2 case", Journal of Materials Science 42, 7, 2455-2462, (2007).

Actes de congrès internationaux

J. Verstraete, L. Khouchaf, and M.H. Tuilier, "Environmental Scanning Electron Microscope contributions in observing the structural evolution of a SiO2 Aggregate attacked by Alkali-Silica Reaction", Proceedings of Modern Microscopy/Scanning, The Journal of Scanning Microscopies 5, 85-86, (2003).

L. Khouchaf, J. Verstraete, F. Boinski and M.-H. Tuilier, "A new approach combining short and long-range techniques to study the structural evolution of a SiO2 aggregate submitted to ASR", 12th ICAAR proceeding (International Conference on Alkali-Aggregate Reaction in Concrete, Beijing, China), Alkali-Aggregate Reaction in Concrete, edited by TANG Mingshu & DENG Min, volume II, 1158-1161 (2004).

Actes de congrès nationaux

L. Khouchaf and J. Verstraete, "X-ray Microanalysis in the Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM): small size particles analysis limits" J. Phys. IV 12, 341-346, (2002).

L. Khouchaf and J. Verstraete, "Electron scattering by gas in the Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM): Effects on the image quality and on the X-ray microanalysis" J. Phys. IV, 118, 237-243, (2004).

F. Boinski, L. Khouchaf, J. Verstraete, M.H. Tuilier, "Etude de la contribution de la diffusion simple et multiple à l’amplitude des atomes voisins du silicium dans SiO2 : Application à un granulat soumis à la réaction alcali-silice", J. Phys.IV, 118, 277-281, (2004).

Présentations orales

J. Verstraete, L. Khouchaf, D. Bulteel, E. Garcia-diaz, A.M Flank, M.H. Tuilier, "Suivi de l’évolution structurale d’un granulat silex attaqué par la réaction alcali-silice", Journées Bruker, Maison de la chimie, Paris, 15-16 octobre (2002).

J. Verstraete, L. Khouchaf, and M.H. Tuilier, "Environmental Scanning Electron Microscope contributions in observing the structural evolution of a SiO2 Aggregate attacked by Alkali-Silica Reaction", MODERN MICROSCOPY/SCANNING, May 3-5 San Diego, California USA (2003).

L. Khouchaf, J. Verstraete, R.J. Prado and M.H. Tuilier, "Structural evolution in SiO2 aggregate induced by Alkali-Silica Reaction: XANES and X-ray diffraction analysis",The 12th International Conference on X-Ray Absoprtion Fine Structure, June 22-27 in Malmö, Sweden, (2003).

L. Khouchaf, J. Verstraete, "La diffusion des électrons par le gaz dans un MEB Environnemental : Effets sur les résultats de microanalyse X et en imagerie", colloque Rayons X et Matière, RX2003, Strasbourg du 9 au 11 décembre (2003).

J. Verstraete, "Initiation d’une nouvelle approche multi-technique et multi-échelle d’étude des propriétés structurales des matériaux hétérogènes" 2ème journée du Groupement Scientifique Rayons X et Neutrons Nord-pas-de-Calais, 7 avril 2005, ENSM, Douai.


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